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納米級(jí)晶圓檢測(cè)設(shè)備主要用于晶圓的缺陷檢測(cè)
技術(shù)參數(shù):
全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),自動(dòng)上下料
高精度運(yùn)動(dòng)模組
缺陷檢測(cè)類(lèi)型:元器件缺失、破損、污染、錯(cuò)焊等
產(chǎn)品應(yīng)用:
半導(dǎo)體大型PCB缺陷檢測(cè)工藝
適合量產(chǎn)